Analytik

In unserem modern ausgestatteten Labor für Oberflächenanalytik werden unsere Schichten, sowie entschichtete Substrate, bei bis zu 100.000-facher Vergrößerung untersucht und optimiert.

Laborausstattung:

digitales Rasterelektronenmikroskop mit EDX
Lichtmikroskope mit digitalen Kameras
Fischerscope XRF
Kalottenschleifgerät
Schichthaftungsmessung
Rockwell-Tester
Farbwertmessgerät




Dienstleistungen:

Schichtdickenmessung
Schichthaftungsmessung
REM/EDX Analytik
XRF Messungen
Materialanalysen
Farbenmessung
Werkstoffprüfung
Schadensanalyse
Probenvorbereitung
Erstellen von Analyseberichten

CVD Mehrlagenschicht auf VHM Substrat
CVD Mehrlagenschicht auf VHM Substrat Bruch, 5000-fach vergößert, Rasterelektronenmikroskop, 20keV, SE-Detektor
EDX Spektrum einer Stahlprobe
EDX Spektrum einer Stahlprobe